原装进口美国Metralight分体式标准非接触激光测微仪MX系列

MX 平行激光测径仪

产品特性

• 结构紧凑

• 无需外接独立控制器

• 测量范围：0~28mm

• 亚微米级分辨率，可达 0.4375μm

• 非线性度＜5μm

• 重复性＜3μm

• 采样速度快，每秒 2500 次测量

• 并行 TTL 接口

• 670nm 激光二极管，1 类激光设备

应用场景

• 适用于多行业各类材质测量（金属、塑料、玻璃、陶瓷、木材等）

• 可测量工件边缘、间隙、直径、位置、厚度、高度、轮廓及振动

• 管材的过程检测与抽样直径测量

• 工件在线 / 离线非接触测量

• 半导体大气 / 真空预对准

技术参数 | MX PAR 测微仪

源自:深圳市湾边贸易有限公司，图文仅供参考。

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